ABI-8200包含2個(gè)重要測(cè)試模塊：ABI-6400+ABI-2400
模塊一：ABI-6400的技術(shù)參數(shù)
6400單獨(dú)成為測(cè)量設(shè)備的外形
離線測(cè)試盒
主要測(cè)試功能：
1)64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測(cè)試
2)64通道V-I曲線模擬通道測(cè)試(可測(cè)模擬器件)
3)強(qiáng)大的元器件和整板仿真測(cè)試功能
4)閾值電平零界點(diǎn)掃描測(cè)試
5)短路追蹤測(cè)試(低電阻測(cè)試)
6)實(shí)時(shí)顯示輸出邏輯電平值
7)存儲(chǔ)器功能測(cè)試
8)數(shù)字時(shí)序編輯功能
9)未知器件型號(hào)查詢
10)程控電源供電,可設(shè)定輸出的延遲時(shí)間
產(chǎn)品特征描述
1)中英文測(cè)試軟件，產(chǎn)品體積小，重量輕，USB接口，適合攜帶
2)數(shù)字測(cè)試通道:64路(可擴(kuò)充到256通道).
3)模擬測(cè)試通道64路，即64路V-I曲線測(cè)試(可擴(kuò)充到256通道). 1路v-i探棒測(cè)試
4)隔離通道:4路.總線競(jìng)爭(zhēng)信號(hào)隔離功能:用于解除總線競(jìng)爭(zhēng)，確保正確測(cè)試掛在總線上的三態(tài)器件(如74LS373,74LS245,等)，可提供4路總線競(jìng)爭(zhēng)隔離信號(hào)。
5)能夠?qū)Χ喾N邏輯電平數(shù)字邏輯器件進(jìn)行在線/離線功能測(cè)試；可以通過(guò)圖像化的編輯器自定義測(cè)試庫(kù)，可以快速擴(kuò)充測(cè)試庫(kù)
6)配有離線測(cè)試盒，快速測(cè)試批量元器件。離線測(cè)試和在線測(cè)試功能完全一至。
7)IC型號(hào)識(shí)別：標(biāo)識(shí)不清或被擦除型號(hào)的器件，可“在線”或“離線”進(jìn)行型號(hào)識(shí)別測(cè)試。
8)讀寫(xiě)存儲(chǔ)器功能測(cè)試:可針對(duì)記憶容量在2k×8到256k×8的EPROM進(jìn)行讀取,對(duì)比及將資料存入電腦中,可進(jìn)行在線或離線測(cè)試.可采取在線(離線)學(xué)習(xí)/比較的測(cè)試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來(lái)，保存到計(jì)算機(jī)上，再和壞板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測(cè)試；測(cè)試結(jié)果定位到存儲(chǔ)單元地址上，并打印出該地址正確和錯(cuò)誤的代碼
9)5V/5A的直流電源程控自動(dòng)輸出,具有過(guò)電壓及過(guò)電流保護(hù)功能.由系統(tǒng)自動(dòng)控制輸出,并可設(shè)定輸出的延遲時(shí)間.方便各種類型電路板的測(cè)試。
10)數(shù)字集成電路測(cè)試中集電極開(kāi)路，自動(dòng)上加上拉電阻。
11)V-I曲線測(cè)試具有單通道探筆測(cè)試功能，方便分立器件的V-I曲線測(cè)試
12)LSI大規(guī)模集成電路在線功能及狀態(tài)分析測(cè)試：可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對(duì)一些常見(jiàn)的LSI器件進(jìn)行功能及狀態(tài)分析測(cè)試。
測(cè)試準(zhǔn)確-源自先進(jìn)的測(cè)試技術(shù)
1.同一器件同一時(shí)間完成多種測(cè)試：功能測(cè)試，V-I曲線測(cè)試，曲線拐點(diǎn)溫度變化系數(shù)，各個(gè)管腳電壓值測(cè)量,管腳連接狀態(tài)測(cè)量顯示,
2.圖形化元件測(cè)試庫(kù)的編輯,輸入輸出各個(gè)測(cè)試通道的邏輯時(shí)序可以由測(cè)試者圖形化自定義編輯測(cè)試完成，方便快捷的建立起測(cè)試庫(kù)中沒(méi)有的元件庫(kù)
3.整板測(cè)試非常簡(jiǎn)單，通過(guò)圖形化的測(cè)試庫(kù)編輯器，根據(jù)電路板原理，定義輸入激勵(lì)信號(hào)及測(cè)試輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號(hào)，快速建立板測(cè)試庫(kù)，快速批量檢測(cè)電路板的功能。
4.邏輯電平閾值自動(dòng)掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值零界值,設(shè)定循環(huán)測(cè)試來(lái)發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的錯(cuò)誤結(jié)果.
5.邏輯電平閾值自定義。可以設(shè)定非標(biāo)準(zhǔn)的邏輯電平閾值，檢查不穩(wěn)定的元器件。
6.短路電阻測(cè)量功能：三段低電阻測(cè)量范圍，可以用圖像及聲音的變化來(lái)表示電阻值大小，并自動(dòng)探棒校正功能。此功能可以用以檢查電路板線路的電阻值，及檢查短路點(diǎn)。
7.輸出邏輯時(shí)序圖形顯示、具體時(shí)序電壓值顯示,方便掌握具體有用測(cè)試信息。
8.V-I曲線測(cè)試功能:可針對(duì)元件直接進(jìn)行測(cè)試，曲線電壓掃描范圍：-10v~+10v；測(cè)試電壓可由2.5到5V步階式調(diào)整, 可調(diào)整為非對(duì)稱電壓掃描信號(hào)，正負(fù)電壓可以不一至，例如：-2.5v~+10v 最大限度地保證測(cè)試的安全性。其輸出電流由系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整設(shè)定.掃描信號(hào)可達(dá)幾十種。
9.V-I曲線溫漂拐點(diǎn)系數(shù)測(cè)定，可以觀測(cè)曲線拐點(diǎn)溫度變化系數(shù)，易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障。方便找出不穩(wěn)定器件.
10.系統(tǒng)可以在64路的基礎(chǔ)上以64通道為單位進(jìn)行通道擴(kuò)充，直至256通道
英國(guó)ABI-6400電路板故障檢測(cè)儀技術(shù)參數(shù)：
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參數(shù)規(guī)格 |
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測(cè)試通道數(shù): |
64通道 |
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總線隔離信號(hào)信道數(shù): |
4通道 |
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輸出驅(qū)動(dòng)電壓: |
TTL/CMOS 標(biāo)準(zhǔn) |
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輸出驅(qū)動(dòng)電流: |
電流依不同的邏輯電平閾值有下列區(qū)分 |
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一般H-L 80mA @ 0.6V |
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一般 L-H 200mA @ 2V |
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Max.?400mA |
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驅(qū)動(dòng)電壓轉(zhuǎn)換比: |
>100V/μs |
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電壓范圍: |
+/-10V |
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輸入阻抗: |
10k |
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邏輯形態(tài): |
三態(tài)或開(kāi)集極開(kāi)路 (內(nèi)定或由程序設(shè)定) |
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驅(qū)動(dòng)邏輯形態(tài): |
Low, high, 三態(tài) (tri-state) |
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過(guò)電壓保護(hù)范圍: |
<0.5V, >5.5V |
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最長(zhǎng)測(cè)試時(shí)間: |
根據(jù)被測(cè)元器件而定 |
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測(cè)試方式: |
在線及離線測(cè)試 (需外接離線測(cè)試盒) |
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電源供給規(guī)格參數(shù) |
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自動(dòng)供給電源輸出: |
1 x 5V @ 5A 固定式 |
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過(guò)電壓保護(hù): |
7V |
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過(guò)電流保護(hù): |
7A |
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測(cè)試模式 |
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單次(Single): |
單次測(cè)試 |
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循環(huán)(Loop): |
反復(fù)測(cè)試, 或條件式循環(huán)測(cè)試(PASS或FAIL) |
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自動(dòng)掃描測(cè)試: |
可找到較為嚴(yán)格的邏輯電平閾值 |
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邏輯電平閾值設(shè)定規(guī)格參數(shù) |
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最小調(diào)整解析: |
100mV |
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低電平Low levels: |
TTL 0.1V to 1.1V |
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CMOS 0.1V to 1.5V |
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三態(tài)Switching levels: |
TTL 1.0V to 2.3V |
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CMOS 1.0V to 3.0V |
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高電平High levels: |
TTL 1.9V to 4.9V |
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CMOS 1.9V to 4.9V |
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掃描低邏輯范圍Swept low levels: |
TTL 0.1V to 1.1V |
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CMOS 0.1V to 1.5V |
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掃描邏輯轉(zhuǎn)態(tài)范圍Swept switching levels: |
TTL 1.2V |
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CMOS 2.5V |
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掃描高邏輯范圍Swept high levels: |
TTL 1.9V to 4.9V |
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CMOS 1.9V to 4.9V |
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測(cè)試功能及參數(shù) |
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集成電路功能測(cè)試 |
根據(jù)測(cè)試庫(kù)的功能進(jìn)行測(cè)試，根據(jù)元件的原理和真值表進(jìn)行測(cè)試 |
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元器件連接特性測(cè)試 |
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短路狀態(tài)偵測(cè) Short circuit detection |
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懸�。ǜ〗樱顟B(tài)偵測(cè) Floating input detection |
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開(kāi)路狀態(tài)偵測(cè) Open circuit detection |
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連接狀態(tài)偵測(cè) Linked pin detection |
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電壓量測(cè)Voltage: |
最小解析 10mV 范圍 +/-10V |
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具邏輯狀態(tài)偵測(cè) Logic state detection |
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VI曲線測(cè)試: |
測(cè)試通道數(shù)64 |
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電壓設(shè)定范圍 -10V to +10V (可自行設(shè)定)，可以設(shè)置非對(duì)稱電壓掃描 |
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最大測(cè)試電流 1mA |
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曲線拐點(diǎn)系數(shù): |
管腳的v-i曲線圖中的拐點(diǎn)圖形，隨溫度產(chǎn)生變化的系數(shù)，對(duì)于判定溫漂的故障元件非常有幫助 |
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配件 |
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標(biāo)準(zhǔn)配件 |
1 x離線測(cè)試測(cè)試盒 |
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1 x 64 way test cable (64通道測(cè)試線) |
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1 x 64 way split test cable (2X32通道測(cè)試線) |
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1 x V-I probe assembly (V-I曲線測(cè)試探棒) |
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1 x BDO cable (隔離通道信號(hào)測(cè)試線) |
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1 x Short locator cable (短路電阻測(cè)試探棒) |
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1 x Ground clip (接地信號(hào)夾) |
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1 x PSU lead set (電源輸出線) |
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通訊及機(jī)箱 |
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內(nèi)置通訊接口 |
PCI interface (通訊接口) |
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外置通訊接口及機(jī)箱 |
MultiLink case |
模塊二：ABI-2400的技術(shù)參數(shù)
2400單獨(dú)成為測(cè)量設(shè)備的外形
ABI2400電路板故障檢測(cè)儀特點(diǎn)：
1)適合數(shù)字及模擬集成電路的測(cè)試
2)可進(jìn)行在線或離線測(cè)試與分析
3)具有24路測(cè)試通道+2路探棒測(cè)試
4)安全性高的無(wú)電源測(cè)量方式
5)矩陣式V-I曲線測(cè)試模式, 可針對(duì)管腳間的阻抗曲線進(jìn)行測(cè)試
6)在進(jìn)行離線測(cè)試時(shí), 可針對(duì)芯片內(nèi)部進(jìn)行阻抗分析
7)自動(dòng)對(duì)比及儲(chǔ)存曲線,
8)可切換VI,VT及IT三種顯示模式, 可配合不同功能型式的FET元器件測(cè)試
9)可設(shè)定同步脈沖信號(hào)的寬度, 進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測(cè)試
10)可進(jìn)行光耦合器及繼電器元器件的速度功能測(cè)試
11)具有二組信號(hào)源, 可輸出直流信號(hào), 針對(duì)光電耦合器及繼電器進(jìn)行穩(wěn)態(tài)測(cè)試.
12)曲線相似度百分比顯示，具有業(yè)界中最多的測(cè)試條件設(shè)計(jì), 大大提高了故障診斷能力.
13)測(cè)試頻率高達(dá)到12kHz, 非常合適測(cè)試電感及高頻電容器件
14)本系統(tǒng)具備自動(dòng)信號(hào)補(bǔ)償功能, 可針對(duì)測(cè)試環(huán)境及夾具進(jìn)行自校測(cè)試, 以防止測(cè)量信號(hào)失真.
15)可由軟件來(lái)進(jìn)行維修日志的編寫(xiě)
16)可由軟件加入圖片, 用來(lái)清楚的表示量測(cè)位置及電路板圖像.
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ABI2400測(cè)試技術(shù)參數(shù)
| V-I 測(cè)試參數(shù) |
| 測(cè)量通道 |
24路測(cè)試通道 |
| 探筆通道 |
2通道實(shí)時(shí)對(duì)比測(cè)試 |
| 信號(hào)通道 |
2通道同步脈沖信號(hào) |
| 測(cè)試電壓范圍 |
2 V to 50 V peak to peak：
2、4、6、8、10、20、30、40、50V |
| 電壓分辨率: |
8 to 12 bits |
| 測(cè)試頻率范圍: |
37.5 Hz to 12 kHz：
37.5/60/75/94/120/150/187.5/240/300/375/480/600/750/960/1.2k
/1.5k/2.4k/3k/4.8k/6k/12kHz |
| 信號(hào)電流范圍: |
1 μA to 150 mA |
| 測(cè)試阻抗范圍: |
100Ω to 1MΩ
100Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ |
| 測(cè)試信號(hào)波形: |
正玄波、三角波、斜波 |
| 顯示圖形模式: |
V-I, V-T, I-T |
| 矩陣測(cè)試 |
各個(gè)管腳間的VI曲線測(cè)試 |
| 測(cè)量波形自動(dòng)對(duì)比功能: |
可利用實(shí)時(shí)量測(cè)雙通道來(lái)自動(dòng)實(shí)時(shí)對(duì)比好壞組件的波形, 或是將波形進(jìn)行存儲(chǔ)之后, 再進(jìn)行比對(duì)工作. |
| 同步脈沖輸出模式: |
正向(Positive), 負(fù)向(negative)或雙向(bipolar)波形，直流模式 |
| 同步信號(hào)振幅: |
可調(diào)式由 +10 V ~- 10V |
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