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實際使用中，大致有以下原因導致不能得到真實的節(jié)點曲線，從而引起故障誤判。測試可靠性指測試儀能夠識別出不真實的ASA曲線的能力。
1．接觸問題
接觸問題是影響故障判斷的常見問題之一。當測試到開路曲線的時候，其實很可能是由于接觸問題——器件管腳氧化、防銹涂層未打磨干凈、測試探頭磨損等原因所引起的，所以在實際使用中，一旦發(fā)現(xiàn)開路曲線，都要再次確認——檢查、處理，然后重測，以免得到虛假曲線。但當一次測試要處理成百上千條曲線時，依靠人工來找出開路曲線很不現(xiàn)實，因此，匯能測試儀設有自動判斷開路曲線的功能，在所有測試后得到的曲線中，只要存在開路曲線，就給出提示信息，用戶可以根據(jù)提示很容易找到它的所在。
2．曲線穩(wěn)定性問題
由于被測電路本身的原因，導致在同樣的測試條件下，每次測到的曲線都不相同稱之為曲線不穩(wěn)定。導致不穩(wěn)定曲線的原因主要有以下三種：
a．自激導致的不穩(wěn)定
電路結點的電特征千差萬別，將一個正弦波注入電路結點，某個結點正好在這個頻率下出現(xiàn)自激是完全可能的。自激曲線的現(xiàn)象是大面積散點，并且沒有最終的穩(wěn)定狀態(tài)。更換測試信號頻率即可消除自激現(xiàn)象。
其實這也是ASA測試使用多種頻率正弦波作為測試信號的原因——正弦波的諧波分量最少，導致自激的可能性最小。
b．過渡過程導致的不穩(wěn)定
當結點的充、放電常數(shù)相差較大時所導致。這種曲線的現(xiàn)象是當反復測試時，曲線逐步向一個穩(wěn)定狀態(tài)靠近，有一個最終的穩(wěn)定狀態(tài)。
c．測試MOS器件時的不穩(wěn)定
前兩種不穩(wěn)定主要發(fā)生在電路板測試時，而這種不穩(wěn)定主要發(fā)生在測試單獨的MOS器件時。導致這種不穩(wěn)定的原因是器件中的MOS晶體管隨測試信號上升、下降的開關過程不同。
這種不穩(wěn)定的現(xiàn)象是曲線上下跳，似乎是兩條穩(wěn)定曲線輪流出現(xiàn)一樣。測試時只要把器件的電源腳和地腳都接地就可消除。
不穩(wěn)定曲線容易導致誤判。但當一次測試要處理成百上千條曲線時，依靠人工來發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定曲線很不現(xiàn)實，因此，匯能測試儀設有自動判斷曲線是否穩(wěn)定的功能，在所有測到的曲線中，只要存在不穩(wěn)定曲線，就給出提示信息，用戶可以根據(jù)提示很容易找到它的所在，然后按上述方式處理、重測即可。
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