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    NIWeek - NI(美國國家儀器公司，National Instruments，簡稱NI) 作為致力于幫助工程師和科學(xué)家應(yīng)對全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的平臺(tái)系統(tǒng)供應(yīng)商，今日宣布推出了NI PXle-6570基于圖形向量的數(shù)字通道板卡和NI數(shù)字圖形向量編輯器。 該產(chǎn)品將射頻集成電路、電源管理IC、微機(jī)電（MEMS）系統(tǒng)設(shè)備以及混合信號(hào)IC的制造商從傳統(tǒng)半導(dǎo)體自動(dòng)化測試設(shè)備(ATE)的封閉式架構(gòu)中解放出來。

    傳統(tǒng)ATE的測試覆蓋率通常無法滿足最新半導(dǎo)體設(shè)備的要求。通過將半導(dǎo)體行業(yè)成熟的數(shù)字測試模式引入到基于PXI開放平臺(tái)的半導(dǎo)體測試系統(tǒng)（STS）中,并使用功能強(qiáng)大且人性化的編輯器和調(diào)試器進(jìn)行優(yōu)化，用戶可以利用先進(jìn)的PXI儀器來降低射頻和模擬IC的測試成本并提高吞吐量。

    “PXI數(shù)字模式儀器為半導(dǎo)體工程師提供所有高端數(shù)字測試平臺(tái)才具備的數(shù)字性能，因此它的問世無疑是為STS錦上添花，” NI半導(dǎo)體測試副總裁Ron Wolfe表示， “如果生產(chǎn)車間的PXI具備這個(gè)功能，他們就可以在滿足先進(jìn)器件的成本和測試要求的同時(shí)，輕松將其擴(kuò)展到其他產(chǎn)品的測試上。”

    NI PXIe-6570數(shù)字模式儀器以非常實(shí)惠的價(jià)格為無線設(shè)備供應(yīng)鏈和物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備常用IC提供了所需的測試功能。它具有100 MVector/秒的圖形向量執(zhí)行速率，在單個(gè)子系統(tǒng)中具有獨(dú)立的源、捕獲引擎、電壓/電流參數(shù)函數(shù)以及高達(dá)256個(gè)同步數(shù)字引腳。 用戶可充分利用PXI的開放性和STS，根據(jù)需求任意地增加或減少所需的器件，以滿足測試配置所需的器件引腳和測試點(diǎn)數(shù)。

    全新的數(shù)字模式編輯器軟件具有以下功能：器件引腳映射圖、規(guī)范和圖形向量編輯環(huán)境，有助于更快速地制定測試計(jì)劃；各種內(nèi)置工具，如多站點(diǎn)和多儀器并行收發(fā)可實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品從開發(fā)到投產(chǎn)的無縫對接；shmoo圖和交互式引腳視圖等工具，可更高效地調(diào)試和優(yōu)化測試。

    使用相同PXI硬件、TestStand、LabVIEW和數(shù)字模式編輯器軟件進(jìn)行特性分析和產(chǎn)品測試，可減少數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)所需的工作，從而縮短產(chǎn)品上市時(shí)間。 STS配置內(nèi)外的PXI硬件占地空間小，可節(jié)省廠房空間，而且可使用特性分析實(shí)驗(yàn)室臺(tái)上的標(biāo)準(zhǔn)墻插式電源供電。

    “PXI已被證明是一個(gè)出色的軟硬件集成解決方案，可同時(shí)適用于產(chǎn)線車間和特性分析實(shí)驗(yàn)室，”Wolfe補(bǔ)充道，“NI基于圖形向量的數(shù)字通道板卡和數(shù)字圖形向量編輯器是重要的創(chuàng)新產(chǎn)品，可幫助器件制造商和測試室降低測試成本以及優(yōu)化測試程序開發(fā)。”

    許多半導(dǎo)體公司正基于NI平臺(tái)和生態(tài)系統(tǒng)來構(gòu)建智能化的測試系統(tǒng)。 不僅僅是生產(chǎn)適用的STS系列、1 GHz帶寬矢量信號(hào)收發(fā)儀，fA級源測量單元以及TestStand半導(dǎo)體模塊, 這些系統(tǒng)受益于覆蓋了直流到毫米波的600多款PXI產(chǎn)品。 它們采用PCI Express第三代總線接口，具有高吞吐量數(shù)據(jù)傳輸能力，同時(shí)具有子納秒級同步以及集成的定時(shí)和觸發(fā)。 用戶可以利用LabVIEW和TestStand軟件環(huán)境的高效生產(chǎn)力，以及一個(gè)由合作伙伴、附加IP、應(yīng)用工程師團(tuán)隊(duì)組成的活躍生態(tài)系統(tǒng)，大幅降低測試成本，縮短上市時(shí)間，開發(fā)面向未來的測試設(shè)備，滿足未來RF和混合信號(hào)測試的各種挑戰(zhàn)。

    如需了解NI的更多半導(dǎo)體測試產(chǎn)品，請?jiān)L問www.ni.com/semiconductor

關(guān)于NI

從1976年開始，美國國家儀器 (www.ni.com) 一直致力于提供各種強(qiáng)大的基于平臺(tái)的系統(tǒng)來幫助工程師和科學(xué)家提高效率和加速創(chuàng)新，以解決全球面臨的重大工程挑戰(zhàn)。從醫(yī)療、汽車、消費(fèi)電子產(chǎn)品到粒子物理等各行各業(yè)的客戶正在使用NI的集成軟硬件平臺(tái)來改善我們生活的環(huán)境。

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