外形尺寸測量多面手——邦納測量光幕
http://www.debgrams.com 2018-12-11 17:16 來源：美國邦納工程國際有限公司
原創： Aiwen Wang
小時候總是迷戀影視劇里的英雄，羨慕他們的仗劍天涯，快意人生。而每一個英雄似乎都有那么一件給力的兵器，可以是齊天大圣的金箍棒，可以是倚天劍、屠龍刀，也可以是美國隊長的盾牌，雷神的錘子，這些兵器總是能在關鍵時刻助主人披荊斬棘。
同樣，我們工控人也希望有稱心如意的幫手，少則節省一大段程序，多則解決技術難點贏得大單，下面就由小編向大家介紹一位在外形尺寸測量應用上兵來將擋、水來土掩的多面手----邦納測量光幕。
測量光幕由發射器和接收器組成，發射器發出的光直射到接收器，出現在發射器和接收器之間的物體將會阻擋一部分光線，使其不能照射到相應的接收器。測量光幕使用掃描的方式來識別被擋的通道，首先一個發射器通道發出光脈沖，而對應的接收器同時來接收該脈沖，然后轉向下一個通道，直到所有的通道都掃描完成。當一個周期掃描完成后，系統記錄哪些通道通光，哪些通道被遮擋，最后根據檢測模式輸出掃描結果，可以是模擬量信號，也可以是MODBUS通信。
邦納測量光幕之所以能夠成為一個多面手，得益于邦納的設計人員賦予了它如下八種的掃描分析模式，使其能夠從容應對不同的應用場景。
掃描模式：
TBB —— 全部被遮斷的光束數；
CBB —— 連續被遮斷的光束數；
TBM —— 全部導通的光束數量；
CBM —— 連續導通的光束數量；
FBB —— 第一條被遮斷的光束；
LBB —— 最后一條被遮斷的光束；
FBM —— 第一條導通的光束；
LBM —— 最后一條導通的光束；
ID —— 光幕起始位置到最后導通位置中的光束導通數量；
OD —— 光幕開始遮擋位置到最后遮擋位置的距離。
掃描分析模式及應用場景示例：
● 物體尺寸/體積測量
使用模式：TBB全部被遮斷的光束數。
● 鏤空物體的外徑測量，如輪胎
使用模式：CBM（連續導通的光束數量）測量內徑；FBB（第一條被遮斷的光束）和LBB（最后一條被遮斷的光束）測量外徑。
● 輪廓定位、高度測量，如：噴漆、烤漆
使用模式：FBB（第一條被遮斷的光束）和LBB（最后一條被遮斷的光束）水平方向上左右輪廓定位；LBB（最后一條被遮斷的光束）用于高度上的定位。
● 孔徑測量
使用模式：CBM（連續導通的光束數量）。
● 糾偏，如：紡織設備、鋼卷開卷設備
使用模式：LBM（最后一條導通的光束）。
最后，邦納測量光幕還有一項能補救設備改動造成的光幕尺寸偏大的技能——盲區設定，邦納測量光幕允許設定至多兩個盲區，用來屏蔽掉不必檢測或被設備機械結構遮擋的區域。
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