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首屆國際電子測試與測量專業研討會
測試與測量技術是信息產業的三大關鍵技術之一，隨著中國電子信息產業的飛速發展，測試測量技術及相關的儀器儀表已成為信息化帶動工業化的重要紐帶。當前我國有各類儀器儀表企業6000余家，年銷售額約1000億元,已形成門類較齊全，具有一定技術基礎和生產規模的工業體系。另據統計，2002年進口電子測試測量儀器達到56億美元，充分顯示了國內市場對電子測量測試產品的巨大需求。 展望21世紀，以集成化、數字化、智能化、網絡化為代表的高端儀器產品漸成新秀，電子測量儀器行業面臨著新的發展機遇與挑戰。為了進一步促進現代電子測試技術的發展，給業內人士提供一個面對面交流和探討電子測試技術的機會，中國電子器材總公司聯合中國電子儀器行業協會將在全國電子產品展覽會（以下簡稱NEF）同期舉辦“首屆國際電子測試與測量專業研討會”。 研討會將邀請政府行業主管領導介紹電子測試與測量的產業政策和宏觀發展態勢；邀請國內外業界專家作專題技術報告；并邀請國內外儀器儀表廠商和電子測試與測量專業技術人員就當前業內的熱點、難點等問題作實質性的探討和研究。為配合本屆電子測試與測量專題研討會的召開，在第62屆NEF上專門開辟儀器儀表專區，薈萃了國內外300余家著名儀器儀表廠商的最新產品。 NEF自1964年以來，已成功舉辦了61屆，是國內歷史最久、規模最大，唯一得到信息產業部和商務部支持的專業電子展會，系亞洲電子展覽聯盟成員，與日本電子展、韓國電子展、臺灣電子展、香港電子展并稱為亞洲五大電子展會。 NEF組委會依托40年累積的客戶資源，并邀請航空、航天、船舶、兵器、核工業、電子研究院所、大專院校等單位專業聽眾參加技術講座。這次盛會必將成為您了解、評估、比較、選擇自身業務發展的新產品、新技術、解決方案及服務的最佳平臺！
會議地點：
上海光大會展中心國際大酒店8號廳
會議時間：
2003年11月19日-20日
會議主題：
新型電子測試測量技術
會議宗旨：
促進中外技術交流，振興民族電子測試與測量技術
展覽會時間：
2003年11月18日-21日
上海光大會展中心
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